測定環境
X線管:150kV 66uA FOD:35mm FID:600mm 検出器のピクセルサイズ:CMOS 75um、CdTe 100um
測定対象
ハンダボール0.6mm(錫63% 鉛37%)のキズ入り
ベアリングボール1.0mm(SUS304)

ハンダボール 0.6mmのキズ入り
| CMOS | CdTe |
|---|---|
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ベアリングボール 1.0mm
| CMOS | CdTe |
|---|---|
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同じ試料を CdTe FPD と CMOS で CT 撮像し、得られた画像を比べます。
測定環境
X線管:150kV 66uA FOD:35mm FID:600mm 検出器のピクセルサイズ:CMOS 75um、CdTe 100um
測定対象
ハンダボール0.6mm(錫63% 鉛37%)のキズ入り
ベアリングボール1.0mm(SUS304)

ハンダボール 0.6mmのキズ入り
| CMOS | CdTe |
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ベアリングボール 1.0mm
| CMOS | CdTe |
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