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MEASUREMENT / SPECTROMETER

X線管スペクトロメータ ANS-XDS01

小面積CdTe検出器を採用した高感度・高計数率のスペクトロメータ。コリメータとの組合せで連続照射X線源のエネルギースペクトルを直接計測する。

PHOTO

製品写真

XDS シリーズ本体
SPECIFICATIONS

スペック

型番ANS-XDS01
検出器CdTe(2×2×0.75mm)
エネルギーレンジ5〜1200keV
ADC分解能16384(14bit)
カウントレート1Mcps
電源ACアダプタ(5V / 3A)
動作温度0〜30℃(結露なきこと)
サイズ/重量(W)190 x (H)84 x (D)200mm/600g
計測機能リストモード出力/オシロスコープ機能/グラフ描画
FEATURE

超高速スペクトロスコピー

小面積CdTe検出器を採用した高感度かつ高計数率に対応したスペクトロメータ。コリメータとの組合せにより連続照射のX線源のエネルギースペクトルを直接的に計測することができるため、線質評価や被写体透過前後のスペクトル解析が可能。自社製のMCAを搭載し、様々な設定に対応する。

MEASUREMENT DATA

実測データ

管電圧100/150/250/350kV別のエネルギースペクトル実測グラフ
管電圧別スペクトル100〜350kVの管電圧条件でエネルギースペクトルを直接計測。
ROI付きの波高スペクトル実測グラフ(4ch重ね書き)
波高スペクトル(ROI)関心領域(ROI)を指定したチャンネル毎の波高分布。
Risetime対Channelの2次元カラーヒートマップ散布図(中性子・ガンマ線弁別)
中性子・ガンマ線弁別自社MCAの波形処理・弁別技術による実測例(詳細は波形解析装置)。

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