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IMAGING / CdTe PhotonCounting FPD

CdTe PhotonCounting FPDエンジニアリングサンプル

個々のX線光子を計数し、エネルギー情報を保持したまま画像化する直接変換型CdTeフォトンカウンティングセンサ。散乱線由来のボケがなく、非破壊検査から学術研究まで微細構造をシャープに可視化する。

PHOTO

製品写真

CdTe PhotonCounting FPD 開発機の実写真
LINEUP

大面積化ロードマップ

現行のCdTe PhotonCounting FPD(有効撮像領域115.2 x 115.2mm)をベースに、タイリング技術で段階的に大面積化する。

2029年

15 x 15 cm

2030年

20 x 20 cm

2032年

40 x 40 cm

※製品イメージ(3Dモデリング)。大きさの比率とモジュールの構成は実際の計画とは異なる。サイズ・時期は現時点の計画であり、変更の可能性がある。

SPECIFICATIONS

スペック

名称CdTe PhotonCounting FPD(略称: CdTe FPD)
検出方式直接変換型 CdTe フォトンカウンティングセンサ
センサ厚750μm/1000μm
有効撮像領域115.2 x 115.2 mm
ピクセル数1152 x 1152 ピクセル
ピクセルピッチ100μm(2bandモード)/200μm(8bandモード)
解像度5 lp/mm(2bandモード)
最大フレームレート60fps
ビット深度16 bit
エネルギー分解能15段階
同時測定可能なエネルギーbin数2 bin(100μmピッチ)/8 bin(200μmピッチ)
計数速度2band/8band各: 5×10⁵ cps、フォトンカウンティング: 1×10⁶ cps、デジタルエネルギー積算: 1×10⁷ cps相当
最小検出エネルギー12.5 keV
動作モード2band/8band/カウンティング/デジタルエネルギー積算
シャッター方式グローバルシャッター
通信方式Camera Link(Medium configuration, SDRコネクタ)/USB3.0・GbEへの変換可
電源24V DC/5A
外寸(W)350 x (D)300 x (H)63 mm
重量カスタマイズによる
動作温度0〜30℃(結露なきこと)
IMAGING EXAMPLES

撮像事例

本センサによる実撮像・実測結果の一部。

画像クリックで拡大→ 撮像事例をもっと見る(ギャラリー)

TECHNOLOGY

技術詳細

STRUCTURE

検出の原理と構造

X線を光に変えずに、CdTe結晶の中で直接電荷に変える。検出素子と読出回路を積層したモジュールを並べて、撮像面を作る。

RESOLUTION

解像度比較

散乱光によるボケがない直接変換方式のため、細かい線まで分離して写る。同じ線量条件での解像度チャートの透過像と、RQA5〜8(管電圧条件)でのMTF実測値で、従来方式と比較する。

解像度チャートの3.0〜5.0 lp/mmの領域。フォトンカウンティング(左)は5.0 lp/mmまで線が分かれて写るのに対し、従来技術(右)は線がつぶれて帯状に写る。

MTFの実測値。CMOS方式(Full resolution)に対し、全帯域でANSeeN CdTe FPDが上回る。

SCALING

タイリングによる柔軟なサイズ対応

読出回路の信号をTSVで裏面へ抜くので、モジュールの四辺を突き合わせて、継ぎ目をほとんど作らずに並べられる。同じ基本モジュールを並べる数を変えるだけで、撮像面の大きさを広げられる。

PATENTS

関連特許

CdTe検出素子・フォトンカウンティング回路・積層とタイリングに関する自社特許。発明ごとに、各国の登録公報と公開公報の番号を示す。

技術発明登録公開
CdTe検出素子放射線検出素子の製造方法CdTe結晶を用いた検出素子の製造方法JP6781868B—
放射線検出素子の製造方法、放射線検出素子、およびそれを含む放射線検出器CdTe等の半導体結晶を用いた検出素子とその製造方法JP6758618B—
フォトンカウンティング回路・画素電荷検出回路及びそれを含む放射線検出装置信号を読み出す電荷検出回路JP6969734B—
放射線検出器及びそれを含む放射線撮像装置X線のスペクトルを取得するための画素配置・センサ構造JP7201195BKR102807149BTWI806202BCN114868042EP4071519US2023341571WO2022113170
放射線撮像装置回路の消費電力を抑える画素駆動トリガ回路JP7534739BKR102899421BTWI818339BCN116390690US2024004092WO2022102095
放射線画像センサフォトンカウンティング方式と積分方式を同じ回路で実現JP7477825BKR102790266BUS2023204799WO2021199195
積層・タイリング放射線撮像装置モジュールを並べて大面積化するタイリング構造での通信JP7239125BKR102741153BUS2023008884WO2022074732
放射線撮像装置モジュール間のデッドスペースを減らす配列と基板の接続構造JP7614592BKR102899416BUS2023378229WO2022074733
放射線撮像装置検出素子ブロックの配列と、バンプ電極による積層・接続JP7534743BTWI826931BCN117042694EP4289360KR20230136198US2024145521WO2022190321

※2026年5月時点の自社特許データから抽出。登録は登録公報(B)、公開は公開公報の番号。各国の審査状況は変わる場合がある。

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