CdTe PhotonCounting Line Sensor开发中
将与CdTe PhotonCounting FPD相同的直接转换型光子计数技术应用于线状探测面的传感器。可在扫描对象的同时进行成像，用于无需拆除保温层即可测量管道壁厚等检测。
产品示意图
※产品示意图（3D建模）。可能与实际外观有所不同。
规格
产品尚在开发中，规格确定后将予以公布。
CdTe直接转换的优势
无需将X射线转换为光，而是在CdTe半导体像素中直接转换为电荷。与使用闪烁体的传统X射线传感器相比，在灵敏度、分辨率和成像速度方面均具有优势。
高灵敏度
碲化镉（CdTe）半导体探测器能够以远高于传统X射线传感器的效率将X射线成像。即使是超过100keV的X射线光子也能被充分吸收，因此与高加速电压的X射线源组合使用时，可对传统X射线检测难以成像的厚壁金属制品等进行成像。
（左）CdTe线阵传感器拍摄的X射线图像／（右）传统传感器拍摄的X射线图像示意
高清晰度
闪烁体型X射线探测器先将X射线转换为光，再由相机成像，转换过程中光线扩散会导致图像模糊。直接转换型CdTe探测器在像素内将X射线光子直接转换为电荷，因此可获得更高清晰度的X射线图像。
左：闪烁体方式（左侧）与直接转换方式（右侧）的对比。右：空间分辨率（MTF: Modulation Transfer Function）对比。黄色为CdTe，灰色为闪烁体。
视频级帧率成像
可实现每秒500帧以上的成像速度，亦适用于出厂检验工序中的高速在线检测。
应用场景
在线无损检测、基础设施检测、工业CT（计算机断层扫描）。
在线检测示意图
成像案例：工厂管道减薄检测
将传感器搭载于自走式机器人，在实际工厂管道上反复开展实证验证。在尽量减少拆除保温层和搭建脚手架的前提下，直接测量管道剩余壁厚。
| 管道 | 真值 | 测量值 | 误差率 |
|---|---|---|---|
| 管道A | 3.82mm | 3.67mm | -3.9% |
| 管道B | 4.4mm | 4.52mm | +2.7% |
| 管道C | 4.75mm | 5.11mm | +7.6% |
实证现场的管道壁厚测量结果。同时验证了最大7mm厚度的测量以及管道内部堵塞的检测。
技术详情
边缘测量与散射线去除
根据透射图像的亮度分布求出管道外侧与内侧的边缘，并由二者之差得出壁厚。在穿透厚保温层和管道的条件下，散射线会降低对比度，因此结合去除处理以确保精度。
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