MEASUREMENT / SPECTROMETER
X射线管能谱仪 ANS-XDS01
采用小面积CdTe探测器的高灵敏度、高计数率能谱仪。与准直器配合使用，可直接测量连续照射X射线源的能谱。
PHOTO
产品照片
SPECIFICATIONS
规格
| 型号 | ANS-XDS01 |
|---|---|
| 探测器 | CdTe（2×2×0.75mm） |
| 能量范围 | 5〜1200keV |
| ADC分辨率 | 16384（14bit） |
| 计数率 | 1Mcps |
| 电源 | AC适配器（5V / 3A） |
| 工作温度 | 0〜30℃（无结露） |
| 尺寸／重量 | (W)190 x (H)84 x (D)200mm／600g |
| 测量功能 | 列表模式输出／示波器功能／图形绘制 |
FEATURE
超高速能谱测量
采用小面积CdTe探测器、兼具高灵敏度与高计数率的能谱仪。与准直器配合使用，可直接测量连续照射X射线源的能谱，因此可用于线质评估以及被摄体透射前后的能谱分析。搭载自主研发的MCA，支持多种设置。
MEASUREMENT DATA
实测数据
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