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MEASUREMENT / SPECTROMETER

X선관 스펙트로미터 ANS-XDS01

소면적 CdTe 검출기를 채용한 고감도·고계수율 스펙트로미터. 콜리메이터와 조합하여 연속 조사 X선원의 에너지 스펙트럼을 직접 계측합니다.

PHOTO

제품 사진

XDS 시리즈 본체
SPECIFICATIONS

사양

모델명ANS-XDS01
검출기CdTe(2×2×0.75mm)
에너지 범위5~1200keV
ADC 분해능16384(14bit)
카운트 레이트1Mcps
전원AC 어댑터(5V / 3A)
동작 온도0~30℃(결로 없을 것)
크기/중량(W)190 x (H)84 x (D)200mm/600g
계측 기능리스트 모드 출력/오실로스코프 기능/그래프 표시
FEATURE

초고속 스펙트로스코피

소면적 CdTe 검출기를 채용하여 고감도와 고계수율을 모두 실현한 스펙트로미터입니다. 콜리메이터와 조합하여 연속 조사 X선원의 에너지 스펙트럼을 직접 계측할 수 있어, 선질 평가 및 피사체 투과 전후의 스펙트럼 분석이 가능합니다. 자사 제작 MCA를 탑재하여 다양한 설정에 대응합니다.

MEASUREMENT DATA

실측 데이터

관전압 100/150/250/350kV별 에너지 스펙트럼 실측 그래프
관전압별 스펙트럼100~350kV의 관전압 조건에서 에너지 스펙트럼을 직접 계측.
ROI가 표시된 파고 스펙트럼 실측 그래프(4ch 중첩 표시)
파고 스펙트럼(ROI)관심 영역(ROI)을 지정한 채널별 파고 분포.
Risetime 대 Channel의 2차원 컬러 히트맵 산포도(중성자·감마선 판별)
중성자·감마선 판별자사 MCA의 파형 처리·판별 기술에 의한 실측 예(자세한 내용은 파형 해석 장치).

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