MEASUREMENT / SPECTROMETER
X선관 스펙트로미터 ANS-XDS01
소면적 CdTe 검출기를 채용한 고감도·고계수율 스펙트로미터. 콜리메이터와 조합하여 연속 조사 X선원의 에너지 스펙트럼을 직접 계측합니다.
PHOTO
제품 사진

SPECIFICATIONS
사양
| 모델명 | ANS-XDS01 |
|---|---|
| 검출기 | CdTe(2×2×0.75mm) |
| 에너지 범위 | 5~1200keV |
| ADC 분해능 | 16384(14bit) |
| 카운트 레이트 | 1Mcps |
| 전원 | AC 어댑터(5V / 3A) |
| 동작 온도 | 0~30℃(결로 없을 것) |
| 크기/중량 | (W)190 x (H)84 x (D)200mm/600g |
| 계측 기능 | 리스트 모드 출력/오실로스코프 기능/그래프 표시 |
FEATURE
초고속 스펙트로스코피
소면적 CdTe 검출기를 채용하여 고감도와 고계수율을 모두 실현한 스펙트로미터입니다. 콜리메이터와 조합하여 연속 조사 X선원의 에너지 스펙트럼을 직접 계측할 수 있어, 선질 평가 및 피사체 투과 전후의 스펙트럼 분석이 가능합니다. 자사 제작 MCA를 탑재하여 다양한 설정에 대응합니다.
MEASUREMENT DATA
실측 데이터



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