ASIC 웨이퍼 → TSV+2층 RDL → μ범프+플립칩 접합 → 레이저 다이싱 → 모듈 시험 → PCB에 타일링 → 패널 시험
CASE · CdTe
TSV가 형성된 ASIC 웨이퍼에 CdTe를 올리고, 절단하고, 배열한다
- 접합도금으로 μ범프를 형성하고 CdTe를 플립칩 접합(CoW)
- 시험절단한 모듈을 전극 프로빙·테스트 펄스·X선으로 시험하고, 패널 상태에서도 X선으로 시험
- 별도 루트도전 페이스트 인쇄에 의한 상온 적층 → Si 인터포저로의 타일링에도 대응

