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MEASUREMENT / SPECTROMETER

X光管能譜儀 ANS-XDS01

採用小面積CdTe偵測器的高靈敏度、高計數率能譜儀。搭配準直器,可直接量測連續照射X光源的能譜。

PHOTO

產品照片

XDS 系列主機
SPECIFICATIONS

規格

型號ANS-XDS01
偵測器CdTe(2×2×0.75mm)
能量範圍5〜1200keV
ADC解析度16384(14bit)
計數率1Mcps
電源AC變壓器(5V / 3A)
工作溫度0〜30℃(無結露)
尺寸/重量(W)190 x (H)84 x (D)200mm/600g
量測功能List mode輸出/示波器功能/圖表繪製
FEATURE

超高速能譜分析

採用小面積CdTe偵測器,兼具高靈敏度與高計數率的能譜儀。搭配準直器可直接量測連續照射X光源的能譜,因此能進行射質評估,以及穿透被攝物前後的能譜分析。搭載自家研發的MCA,可對應各種設定。

MEASUREMENT DATA

實測數據

管電壓100/150/250/350kV之能譜實測圖
各管電壓能譜於100〜350kV管電壓條件下直接量測能譜。
含ROI的脈衝高度能譜實測圖(4ch疊加)
脈衝高度能譜(ROI)指定關注區域(ROI)後各通道的脈衝高度分布。
Risetime對Channel的二維彩色熱圖散佈圖(中子/伽瑪射線鑑別)
中子/伽瑪射線鑑別運用自家MCA波形處理與鑑別技術的實測範例(詳見波形分析裝置)。

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