측정 환경
X선관: 150kV 66uA FOD: 35mm FID: 600mm 검출기 픽셀 크기: CMOS 75um, CdTe 100um
측정 대상
흠집이 있는 솔더 볼 0.6mm(주석 63% 납 37%)
베어링 볼 1.0mm(SUS304)
흠집이 있는 솔더 볼 0.6mm
| CMOS | CdTe |
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베어링 볼 1.0mm
| CMOS | CdTe |
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BLOG / 사례
CdTe와 CMOS의 CT 비교
동일한 시료를 CdTe FPD와 CMOS로 CT 촬영하여 얻은 이미지를 비교합니다.