1. X射线的能量(波长)

X射线与光一样属于电磁波。波长不足可见光1/1000的电磁波被称为X射线(※1)。

电磁波的能量与波长成反比。也就是说,能量甄别实际上就是波长甄别,与可见光中利用彩色滤光片进行波长选择是一样的。可见光数码相机等通过彩色滤光片分别记录RGB(红绿蓝),从而呈现彩色图像。对于X射线,如果同样能够对波长进行滤波,便可实现该波长范围的彩色化(获取并利用波长信息)。

一般工业用途及医疗用途所使用的X射线源发出的X射线波长在100pm(皮米)以下。由于其波长比构成物体的原子间距还短,因此是一种穿透物质能力极强的电磁波。对于如此短的波长,并不存在像可见光那样可选择波长的彩色滤光片,因此无法用同样的方法进行波长甄别。

2. X射线的能量甄别

要在X射线范围内进行波长甄别,可以利用光电效应(※2)所产生的电荷数与入射X射线能量成正比这一特性。由于X射线具有极高的能量,会在光电二极管内产生数千至数万个电荷。例如,60keV的X射线入射CdTe传感器时会产生13,500个电荷,120keV的X射线入射时则会产生约27,000个电荷。由于入射X射线与光电二极管的响应信号呈正比关系,只要能够准确计数电荷,就能得知X射线的能量。该技术通过对入射X射线的光子进行计数,因此被称为“光子计数(Photon Counting)”。

使用采用CdTe传感器的测量系统,以约2keV的能量分辨率测量放射性同位素(Am241),可获得如下能谱(纵轴:放射线数量,横轴:放射线能量)。

图1:Am241的能谱

可进行能量甄别的X射线相机的数据量

光子计数方式可同时获得X射线的频度和能量两种信息,因此信息量也相应增加。例如在可见光情况下,分别获取RGB各自的图像,再根据加法混色原理计算色彩信息以实现全彩色,其信息量如下。 可见光图像的数据量 = 8bit * 3色 * 像素数 而对于X射线,所需的能量并不限于三个,例如需要8个能量时,信息量如下。 X射线图像的数据量 = 16bit * 8能量 * 像素数 就像素数而言,可见光单反相机为1500~6000万像素,而X射线相机在20x20cm、0.1mm像素间距的情况下为400万像素,因此数据量约为可见光相机的一半至相当水平。

※若以图1的能量分辨率进行采集,8能量的部分将变为75能量(150keV/2keV),因此数据量比可见光相机大约一个数量级。

3. X射线能量的应用

材料识别是X射线能量信息的应用方法之一。该技术在进行X射线CT成像时同步获取能量信息,从而能够计算出原子序数和密度,进而直接识别材料。由于获取两个能量即可实现,因此被称为Dual Energy X-ray CT(DECT,DXCT),是利用能量的成像方法中研究最为活跃的一种。此外,利用更多能量的成像方法被称为Spectral CT,在放射核医学等研究领域已有相关应用报道。

如图2所示,在X射线成像中,传感器获取的值(像素值)的含义及信息维度因成像方法而异。在所谓的普通成像即X射线(伦琴)成像中,像素值是成像对象的衰减系数与透射长度的乘积,即使材料不同,也可能因厚度组合而得到完全相同的像素值,因此无法区分材料差异。在CT成像中,通过对全周进行成像并重建可获得断层图像,透射长度信息被分解到各个像素中,因此像素值代表衰减系数。与伦琴图像相比,这大幅提升了对衰减系数不同的成像对象的识别能力。若在CT成像中利用能量信息,则可进一步将衰减系数分解为原子序数。其原理如前所述,至少以两个能量进行成像,便可计算出各物质衰减系数的差异,从而推定原子序数。

图2:各成像方法中像素值的含义

衰减系数

原子序数推定计算的关键在于衰减系数,不同材料在不同能量下会表现出不同的响应。图3以铝(Al)、铜(Cu)、钨(W)为例,展示了0~300keV范围内的衰减系数。

图3:各物质的衰减系数

材料识别示例

以下图像是利用DECT原理检测模拟炸药的成像示例(图4)。在左图的CT图像(衰减系数映射)中,各物体的像素值并无明显差异,只能看出疏密程度;而在右图的密度(电子密度)图像中,可以清楚地看出只有爆炸物(模拟炸药)的电子密度明显不同。

图4:材料识别示例(危险品检测)

参考文献

※1:光谱图(日本文部科学省)

※2:光电效应(Wikipedia)

← 返回Blog列表