1. X光的能量(波長)

X光與可見光同屬電磁波。波長在可見光的1/1000以下範圍的電磁波稱為X光(※1)。

電磁波的能量即為波長的倒數。換言之,能量鑑別也就是所謂的波長鑑別,與可見光中利用彩色濾光片進行波長選擇相同。可見光的數位相機等裝置透過彩色濾光片分別記錄RGB(紅綠藍),即可呈現彩色影像。若X光也能進行波長濾波,便可實現此波長範圍的彩色化(取得並活用波長資訊)。

一般而言,工業用途或醫療用途所使用的X光源所放出的X光波長在100pm(皮米)以下。由於其波長短於構成物體的原子間距離,因此是穿透物質能力極高的電磁波。對於如此極短的波長,並不存在如可見光所使用、可選擇波長的彩色濾光片,因此無法以相同方式進行波長鑑別。

2. X光的能量鑑別

要在X光範圍進行波長鑑別,可利用光電效應(※2)所產生的電荷數與入射X光能量成正比的特性。由於X光具有極高的能量,會在光電二極體內產生數千至數萬個電荷。例如,60keV的X光入射CdTe感測器時會產生13,500個電荷,120keV的X光入射時則會產生約27,000個電荷。由於入射X光與光電二極體的響應訊號呈正比關係,只要能準確計算電荷數,即可得知X光的能量。此技術因計算入射X光的光子數量,而被稱為「光子計數(Photon Counting)」。

以採用CdTe感測器的量測系統、在約2keV的能量解析度下量測放射性同位素(Am241),即可取得如下的能譜(縱軸:輻射數量,橫軸:輻射能量)。

圖1:Am241的能譜

可進行能量鑑別的X光相機之資料量

光子計數方式可取得X光的頻度與能量兩種資訊,因此資訊量也相應增加。例如可見光的情況,是分別取得RGB各自的影像,再依加法混色原理計算色彩資訊以實現全彩,因此資訊量如下。 可見光影像的資料量 = 8bit * 3色 * 像素數 另一方面,X光所需的能量不一定只有三種,例如需要8種能量時,資訊量如下。 X光影像的資料量 = 16bit * 8能量 * 像素數 在像素數方面,可見光單眼相機為1500~6000萬像素,而X光相機在20x20cm、0.1mm間距的情況下為400萬像素,因此資料量約為可見光相機的一半至同等程度。

※若以圖1的能量解析度取得,8能量的部分將變為75能量(150keV/2keV),因此資料量會比可見光相機大約一個數量級。

3. X光的能量活用

材料識別是X光能量資訊的活用方法之一。在進行X光CT攝影時同步取得能量資訊,即可算出原子序與密度,從而直接識別材料。由於取得兩種能量即可實現,因此稱為Dual Energy X-ray CT(DECT、DXCT),是活用能量的攝影方法中研究最為熱絡的技術。此外,活用更多能量的攝影方法稱為Spectral CT,在放射核醫學等研究領域已有相關應用報告。

如圖2所示,在X光攝影中,感測器所取得的值(像素值)的意義與資訊維度會因攝影方法而異。在所謂單純攝影的X光(倫琴)攝影中,像素值為攝影對象的衰減係數與穿透長度相乘的值,因此即使是不同材料,也可能因與厚度的組合而得到完全相同的像素值,故無法分辨材料差異。CT攝影透過全周攝影並重建,可取得斷層影像,穿透長度的資訊被分解至各像素中,因此像素值代表衰減係數。如此一來,相較於X光影像,對衰減係數不同之攝影對象的識別能力大幅提升。若在CT攝影中活用能量資訊,還能進一步將衰減係數分解為原子序。其原理如前所述,至少以兩種能量進行攝影,即可算出各物質衰減係數的差異,從而推估原子序。

圖2:各攝影方法中像素值的意義

衰減係數

推估原子序之計算的關鍵在於衰減係數,各材料在不同能量下會呈現不同的反應。圖3以鋁(Al)、銅(Cu)、鎢(W)為例,顯示0~300keV的衰減係數。

圖3:各物質的線衰減係數

材料識別範例

下圖為活用DECT原理進行模擬爆裂物檢測的攝影範例(圖4)。左圖的CT影像(衰減係數分布)中,各物體的像素值並無明顯差異,僅能看出疏密;而右圖以密度(電子密度)呈現時,可清楚看出僅有爆裂物(模擬爆裂物)的電子密度明顯不同。

圖4:材料識別範例(危險物品檢測)

參考文獻

※1:光地圖(日本文部科學省)

※2:光電效應(Wikipedia)

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